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Onto Innovation Inc., el control de precisión al servicio de los semiconductores

L’essentiel

Surgida de la fusión de Nanometrics y Rudolph Technologies, la estadounidense Onto Innovation suministra equipos de medición, inspección y litografía a la industria de los semiconductores. Sus soluciones acompañan la fabricación de chips y su ensamblaje, con un objetivo central: detectar las desviaciones de producción…

À retenir

Surgida de la fusión de Nanometrics y Rudolph Technologies, la estadounidense Onto Innovation suministra equipos de medición, inspección y litografía a la industria de los semiconductores. Sus soluciones acompañan la fabricación de chips y su ensamblaje, con un objetivo central: detectar las desviaciones de producción…


Onto Innovation Inc. ocupa un lugar discreto pero fundamental en la cadena de fabricación de semiconductores. Con sede en Wilmington, Massachusetts, esta empresa estadounidense no diseña los procesadores que incorporan los ordenadores: suministra parte de los instrumentos que permiten fabricarlos de forma reproducible. Sus equipos y programas informáticos sirven para medir estructuras, detectar defectos y aprovechar los datos de producción, desde las etapas de fabricación sobre obleas hasta el encapsulado avanzado.

Una empresa nacida de la fusión de dos especialistas

Onto Innovation se creó en 2019 mediante la fusión de Nanometrics y Rudolph Technologies, dos proveedores estadounidenses de equipos para la industria de los semiconductores. La fusión reunió competencias complementarias, en particular la metrología óptica de Nanometrics y las actividades de inspección, litografía y software de Rudolph Technologies. La empresa cotiza en la Bolsa de Nueva York con el símbolo ONTO.

Este origen explica su posicionamiento transversal. En lugar de intervenir en una sola operación, Onto Innovation ofrece varios elementos para el control de procesos. Se dirige tanto a los fabricantes de circuitos integrados como a las empresas especializadas en el ensamblaje y encapsulado de componentes.

Medir, inspeccionar y conectar los datos de fabricación

La metrología constituye uno de los pilares de su actividad. Los sistemas ópticos caracterizan, entre otros aspectos, las dimensiones de las estructuras y las propiedades de las películas delgadas, sin destruir necesariamente las muestras analizadas. Estas mediciones permiten comprobar que los procesos se mantienen dentro de los parámetros previstos. Su importancia aumenta a medida que las arquitecturas se vuelven más complejas y se reducen los márgenes de tolerancia.

La inspección, por su parte, busca detectar y caracterizar los defectos que podrían afectar al funcionamiento o a la fiabilidad de los componentes. Onto Innovation también interviene en la litografía destinada al encapsulado avanzado, donde es necesario crear los patrones para las interconexiones. Este ámbito cobra importancia con el ensamblaje de varios chips en un mismo encapsulado.

Los programas informáticos complementan estos equipos al organizar el análisis de los datos de medición e inspección. Para los fabricantes, el reto consiste en comprender con mayor rapidez el origen de una desviación, limitar las pérdidas y estabilizar los rendimientos. Por tanto, el valor del proveedor se basa tanto en la calidad de las mediciones como en su integración en los flujos de producción.

¿Y ahora?

El desarrollo de chiplets, memorias de alto ancho de banda y componentes destinados a la inteligencia artificial aumenta las necesidades de control en el encapsulado avanzado. Estas tendencias abren oportunidades de mercado para Onto Innovation, sin eliminar el carácter cíclico de las inversiones de los fabricantes de semiconductores.

Su trayectoria dependerá de su capacidad para seguir el ritmo de las nuevas arquitecturas, conseguir la homologación de sus equipos y demostrar su utilidad económica en la producción. En un sector donde un defecto localizado puede comprometer un ensamblaje costoso, la precisión del control sigue siendo un reto industrial concreto.

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