Nova Ltd. intervient dans une étape discrète mais déterminante de la production des semiconducteurs : vérifier que les structures et les matériaux déposés sur les plaques de silicium correspondent aux spécifications attendues. Installée à Rehovot, en Israël, l’entreprise développe des équipements de métrologie et des logiciels d’analyse destinés aux fabricants de puces. Elle ne conçoit donc pas de processeurs : elle fournit une partie des moyens nécessaires pour maîtriser leur fabrication et détecter les dérives des procédés.
Une entreprise israélienne née avec les besoins de contrôle industriel
Fondée en 1993, Nova s’est développée autour de la métrologie intégrée aux équipements de production. Cette approche permet de rapprocher la mesure des opérations de fabrication, plutôt que de s’appuyer uniquement sur des contrôles effectués dans des systèmes séparés. Cotée au Nasdaq sous le symbole NVMI, la société accompagne l’évolution d’une industrie où chaque génération de composants impose de nouvelles contraintes de précision.
Son périmètre s’est progressivement élargi au-delà de la mesure dimensionnelle. L’acquisition de ReVera, en 2015, a renforcé ses compétences dans l’analyse des matériaux par rayons X. Celle d’ancosys, finalisée en 2022, lui a apporté des technologies d’analyse chimique pour les procédés de fabrication. Ces opérations traduisent une même logique : croiser plusieurs types de mesures pour mieux comprendre ce qui se passe sur les lignes de production.
Mesurer les formes, les matériaux et la chimie
L’offre de Nova associe des instruments physiques, des modèles et des logiciels. Ses solutions optiques servent notamment à déterminer les dimensions et les profils de structures très fines à partir de leur interaction avec la lumière. D’autres systèmes caractérisent la composition ou les propriétés de couches de matériaux. L’analyse chimique permet, de son côté, de suivre certains paramètres des bains employés dans les procédés industriels.
Ces informations alimentent le contrôle des procédés chez les fabricants de composants logiques et de mémoires. L’enjeu est de repérer rapidement les écarts susceptibles d’affecter les performances ou le rendement de fabrication. Avec des architectures tridimensionnelles et des empilements plus complexes, une mesure isolée ne suffit pas toujours : la combinaison de données issues de plusieurs techniques devient particulièrement utile. Nova développe ainsi des outils de modélisation et d’apprentissage automatique pour faciliter leur interprétation.
Et maintenant ?
La miniaturisation, les nouvelles architectures de transistors et le packaging avancé ouvrent de nouveaux besoins de caractérisation. Pour Nova, la perspective consiste à rendre mesurables des structures toujours plus complexes, tout en respectant les contraintes de cadence des usines. Sa capacité à relier mesure dimensionnelle, analyse des matériaux et contrôle chimique constitue un axe de développement.
Cette trajectoire reste liée aux cycles d’investissement des fabricants de semiconducteurs. La concurrence entre équipementiers, les délais de qualification des instruments et les restrictions commerciales internationales peuvent également peser sur son activité. Le défi sera de transformer la complexité croissante des puces en applications industrielles durables, sans dissocier précision de mesure et efficacité opérationnelle.